Tisk…

Hledali jste: LEICA MICROSYSTEMS


205  výsledků nalezeno

Upřesnit hledání Třídit podle

Sort Results

Zobrazit seznam Rychlý náhled (novinka)
SearchResultCount:"205"

Ohodnoťte výsledky hledání

Product Image-LEIM11506382

HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,4 mm

Popis: HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,4 mm
Katalogové číslo: LEIM11506382
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506519

HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,2 mm

Popis: HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,2 mm
Katalogové číslo: LEIM11506519
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556036

N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Pracovní vzdálenost: 11,2 mm

Popis: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Pracovní vzdálenost: 11,2 mm
Katalogové číslo: LEIM11556036
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556061

HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: LEIM11556061
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556511

HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: LEIM11556511
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556065

HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm

Popis: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm
Katalogové číslo: LEIM11556065
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556060

HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm

Popis: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm
Katalogové číslo: LEIM11556060
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556071

HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm

Popis: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm
Katalogové číslo: LEIM11556071
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM30221015

Cold light source

Popis: Cold light source
Katalogové číslo: LEIM30221015
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS

New Product


Product Image-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm

Popis: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm
Katalogové číslo: LEIM11506314
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3433

AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class

Popis: AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class
Katalogové číslo: 630-3433
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: 630-3366
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Pracovní vzdálenost: 11,7 mm

Popis: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Pracovní vzdálenost: 11,7 mm
Katalogové číslo: 630-3368
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm

Popis: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm
Katalogové číslo: 630-3367
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3370

N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm

Popis: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3370
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm

Popis: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3369
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
33 - 48 of 205