Tisk…

Hledali jste: LEICA MICROSYSTEMS


205  výsledků nalezeno

Upřesnit hledání Třídit podle

Sort Results

Zobrazit seznam Rychlý náhled (novinka)
SearchResultCount:"205"

Ohodnoťte výsledky hledání

Image Unavailable-LEIM10450127

Accessory for microscopes, Pro: Leica DVM6 M digital microscope, Manual IsoPro XY stage, 6×4"

Popis: Accessory for microscopes, Pro: Leica DVM6 M digital microscope, Manual IsoPro XY stage, 6×4"
Katalogové číslo: LEIM10450127
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-630-3458

Microscope camera, Leica®, K3M, CMOS, Mono, 6,3 MP, USB 3.0

Popis: Microscope camera, Leica®, K3M, CMOS, Mono, 6,3 MP, USB 3.0
Katalogové číslo: 630-3458
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: 630-3366
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Pracovní vzdálenost: 11,7 mm

Popis: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Pracovní vzdálenost: 11,7 mm
Katalogové číslo: 630-3368
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm

Popis: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm
Katalogové číslo: 630-3367
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3370

N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm

Popis: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3370
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm

Popis: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3369
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506277

HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm

Popis: HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm
Katalogové číslo: LEIM11506277
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506401

HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm

Popis: HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm
Katalogové číslo: LEIM11506401
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506227

HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm

Popis: HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm
Katalogové číslo: LEIM11506227
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3433

AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class

Popis: AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class
Katalogové číslo: 630-3433
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm

Popis: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm
Katalogové číslo: LEIM11506314
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506349

HC PLAN APO 63×/1,40 NA - 0,60 oil; BF, DIC, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Pracovní vzdálenost: 0,14 mm

Popis: HC PLAN APO 63×/1,40 NA - 0,60 oil; BF, DIC, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Pracovní vzdálenost: 0,14 mm
Katalogové číslo: LEIM11506349
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3527

Microscope, Stereo, Binocular, Ivesta 3 (integrated camera), Objektivy: Apochromatic 0,5×, 0,63×, 0,75×, 1,6×, 2,0× (lead-free)

Popis: Microscope, Stereo, Binocular, Ivesta 3 (integrated camera), Objektivy: Apochromatic 0,5×, 0,63×, 0,75×, 1,6×, 2,0× (lead-free)
Katalogové číslo: 630-3527
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506220

HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,09 mm

Popis: HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,09 mm
Katalogové číslo: LEIM11506220
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3537

Microscope, Stereo, Binocular, Ivesta 3 (C-mount) set

Popis: Microscope, Stereo, Binocular, Ivesta 3 (C-mount) set
Katalogové číslo: 630-3537
Měrná jednotka: 1 * 1 SET
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
17 - 32 of 205