Tisk…

Hledali jste: LEICA MICROSYSTEMS


205  výsledků nalezeno

Upřesnit hledání Třídit podle

Sort Results

Zobrazit seznam Rychlý náhled (novinka)
SearchResultCount:"205"

Ohodnoťte výsledky hledání

Image Unavailable-LEIM10447131

Eyepiece, adjustable, low eyepoint, 10× (23 mm)

Popis: Eyepiece, adjustable, low eyepoint, 10× (23 mm)
Katalogové číslo: LEIM10447131
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM10450192

Achromat objective, M60 thread, 0,50×, Pracovní vzdálenost: 188,5 mm

Popis: Achromat objective, M60 thread, 0,50×, Pracovní vzdálenost: 188,5 mm
Katalogové číslo: LEIM10450192
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM10450656

LED osvětlení, LED3000

Popis: LED osvětlení, LED3000
Katalogové číslo: LEIM10450656
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM10450508

Accessory for microscopes, Leica LED3000 SLI, bodové osvětlení

Popis: Accessory for microscopes, Leica LED3000 SLI, bodové osvětlení
Katalogové číslo: LEIM10450508
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM13312611

Accessory for microscopes, Table holder for flex-arm stand

Popis: Accessory for microscopes, Table holder for flex-arm stand
Katalogové číslo: LEIM13312611
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3433

AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class

Popis: AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class
Katalogové číslo: 630-3433
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm

Popis: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm
Katalogové číslo: LEIM11506314
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506097

N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm

Popis: N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm
Katalogové číslo: LEIM11506097
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: 630-3366
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Pracovní vzdálenost: 11,7 mm

Popis: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Pracovní vzdálenost: 11,7 mm
Katalogové číslo: 630-3368
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm

Popis: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm
Katalogové číslo: 630-3367
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3370

N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm

Popis: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3370
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm

Popis: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3369
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506277

HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm

Popis: HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm
Katalogové číslo: LEIM11506277
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506401

HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm

Popis: HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm
Katalogové číslo: LEIM11506401
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506227

HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm

Popis: HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm
Katalogové číslo: LEIM11506227
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
1 - 16 of 205