Tisk…

Hledali jste: LEICA+MICROSYSTEMS


768  výsledků nalezeno

Upřesnit hledání Třídit podle

Sort Results

Zobrazit seznam Rychlý náhled (novinka)
SearchResultCount:"768"

Ohodnoťte výsledky hledání

Product Image-LEIM11506273

HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH2; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 2 mm

Popis: HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH2; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 2 mm
Katalogové číslo: LEIM11506273
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3310

HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm

Popis: HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm
Katalogové číslo: 630-3310
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3189

N PLAN 10×/0,25 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm

Popis: N PLAN 10×/0,25 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm
Katalogové číslo: 630-3189
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3188

N PLAN L 20×/0,35 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 6,9 mm

Popis: N PLAN L 20×/0,35 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 6,9 mm
Katalogové číslo: 630-3188
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506237

HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Pracovní vzdálenost: 0,31 mm

Popis: HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Pracovní vzdálenost: 0,31 mm
Katalogové číslo: LEIM11506237
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506083

N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Pracovní vzdálenost: 11,2 mm

Popis: N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Pracovní vzdálenost: 11,2 mm
Katalogové číslo: LEIM11506083
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506525

HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,18 mm

Popis: HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,18 mm
Katalogové číslo: LEIM11506525
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506382

HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,4 mm

Popis: HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,4 mm
Katalogové číslo: LEIM11506382
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506519

HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,2 mm

Popis: HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,2 mm
Katalogové číslo: LEIM11506519
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556036

N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Pracovní vzdálenost: 11,2 mm

Popis: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Pracovní vzdálenost: 11,2 mm
Katalogové číslo: LEIM11556036
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556061

HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: LEIM11556061
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556511

HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: LEIM11556511
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556065

HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm

Popis: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm
Katalogové číslo: LEIM11556065
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556071

HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm

Popis: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm
Katalogové číslo: LEIM11556071
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm

Popis: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm
Katalogové číslo: LEIM11506314
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: 630-3366
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
113 - 128 of 768