Tisk…

Hledali jste: LEICA+MICROSYSTEMS


768  výsledků nalezeno

Upřesnit hledání Třídit podle

Sort Results

Zobrazit seznam Rychlý náhled (novinka)
SearchResultCount:"768"

Ohodnoťte výsledky hledání

Product Image-LEIM11506227

HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm

Popis: HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm
Katalogové číslo: LEIM11506227
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3433

AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class

Popis: AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class
Katalogové číslo: 630-3433
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm

Popis: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm
Katalogové číslo: LEIM11506314
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506097

N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm

Popis: N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm
Katalogové číslo: LEIM11506097
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm

Popis: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: 630-3366
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm

Popis: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm
Katalogové číslo: 630-3367
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3370

N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm

Popis: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3370
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm

Popis: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3369
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506401

HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm

Popis: HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm
Katalogové číslo: LEIM11506401
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3301

N PLAN L phase 40×/0,55 NA PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 3,3 - 1,9 mm

Popis: N PLAN L phase 40×/0,55 NA PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 3,3 - 1,9 mm
Katalogové číslo: 630-3301
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3189

N PLAN 10×/0,25 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm

Popis: N PLAN 10×/0,25 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm
Katalogové číslo: 630-3189
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3188

N PLAN L 20×/0,35 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 6,9 mm

Popis: N PLAN L 20×/0,35 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 6,9 mm
Katalogové číslo: 630-3188
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3310

HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm

Popis: HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm
Katalogové číslo: 630-3310
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506158

N PLAN 100×/1,25 NA oil; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,12 mm

Popis: N PLAN 100×/1,25 NA oil; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,12 mm
Katalogové číslo: LEIM11506158
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506096

N PLAN 20×/0,40 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,39 mm

Popis: N PLAN 20×/0,40 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,39 mm
Katalogové číslo: LEIM11506096
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506405

N PLAN 10×/0,25 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm

Popis: N PLAN 10×/0,25 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 17,7 mm
Katalogové číslo: LEIM11506405
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS
97 - 112 of 768