Tisk…

Hledali jste: Objektivy mikroskopu

Microscope objectives are a pivotal component in any microscopy system, designed to precisely focus light and produce high-resolution images of specimens. Whether for educational purposes, clinical research, or advanced scientific studies, selecting the right objective lens is critical to enhance magnification and clarity. High-performance objectives with optimal numerical aperture can significantly improve image quality, catering to professionals in fields like cell biology, medical diagnostics, and materials science. Investing in superior microscope objectives ensures you capture every detail with unparalleled precision, meeting the exacting demands of modern microscopy.

Microscope objectives are a pivotal component in any microscopy system, designed to precisely focus light and produce high-resolution images of specimens. Whether for educational purposes, clinical research, or advanced scientific studies, selecting the right objective lens is critical to enhance magnification and clarity. High-performance objectives with optimal numerical aperture can significantly improve image quality, catering to professionals in fields like cell biology, medical diagnostics, and materials science. Investing in superior microscope objectives ensures you capture every detail with unparalleled precision, meeting the exacting demands of modern microscopy.


309  výsledků nalezeno

Sort Results

SearchResultCount:"309"
Popis: HC PLAN FL L 63×/0,70 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 63×, Pracovní vzdálenost: 2,6 - 1,8 mm
Katalogové číslo: LEIM11506217
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Pracovní vzdálenost: 0,31 mm
Katalogové číslo: LEIM11506237
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Pracovní vzdálenost: 11,2 mm
Katalogové číslo: LEIM11506083
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,4 mm
Katalogové číslo: LEIM11506382
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,2 mm
Katalogové číslo: LEIM11506519
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Pracovní vzdálenost: 11,2 mm
Katalogové číslo: LEIM11556036
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: LEIM11556061
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,36 mm
Katalogové číslo: LEIM11556065
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Pracovní vzdálenost: 18 mm
Katalogové číslo: LEIM11556060
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Pracovní vzdálenost: 0,92 mm
Katalogové číslo: LEIM11556071
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Pracovní vzdálenost: 0,37 mm
Katalogové číslo: LEIM11506314
Měrná jednotka: 1 * 1 KS
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Pracovní vzdálenost: 12 mm
Katalogové číslo: 630-3366
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Pracovní vzdálenost: 11,7 mm
Katalogové číslo: 630-3368
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Pracovní vzdálenost: 1,15 mm
Katalogové číslo: 630-3367
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3370
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS


Popis: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Pracovní vzdálenost: 0,5 mm
Katalogové číslo: 630-3369
Měrná jednotka: 1 * 1 MJ
Dodavatel: LEICA MICROSYSTEMS